Вернуться к статье

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ

Таблица 1 - Вычисление дисперсий среднего для значений оптической плотности серии экспериментов (24 дня)

Sj2

Sj

Sx

εp

Δ

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,128

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,213

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,192

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,325

1,000E-06

1,000E-03

2,500E-04

7,950E-04

0,141

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,228

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,154

1,333E-06

1,155E-03

2,887E-04

9,180E-04

0,386

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,148

4,000E-06

2,000E-03

5,000E-04

1,590E-03

0,898

1,000E-06

1,000E-03

2,500E-04

7,950E-04

0,382

1,000E-06

1,000E-03

2,500E-04

7,950E-04

0,657

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,098

1,000E-06

1,000E-03

2,500E-04

7,950E-04

0,292

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,128

3,333E-07

5,774E-04

1,443E-04

4,590E-04

0,220