Вернуться к статье
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО SiO2 ДЛЯ ОЧИСТКИ МОДЕЛЬНЫХ РАСТВОРОВ, СОДЕРЖАЩИХ ТЯЖЕЛЫЕ МЕТАЛЛЫ
Рисунок 1 - Сравнение расчетных и экспериментальных значений определения Pb2+ в присутствии катионов Cd2+, Ni2+, Cu2+, Zn2+ плюмбоновым методом